固體激(jī)光(guāng)材料熒光壽(shòu)命(mìng)的測量(liáng)實(shí)驗儀(yí)  型(xíng)號:DP-GOP-I
，實驗(yàn)目(mù)的
       掌握測量固體激光材(cái)料(liào)熒光壽命(mìng)的方(fāng)法(fǎ)巧及原理。了(liǎo)解熒光(guāng)壽(shòu)命對激光器及(jí)其(qí)電源所(suǒ)起的作(zuò)用。
二，實(shí)驗原理
      固體激光材料的熒光壽命(mìng)定義(yì)為：當激發源撒(sā)去以(yǐ)後，熒光強度(dù)有 I0衰(shuāi)減到(dào)I0的e分之時(shí)所需的(dí)時(shí)間(jiān)。脈(mài)衝氙(xiān)燈經電(diàn)源激發(fā)後發出(chū)脈衝(chōng)光束，當(dāng)被測材料吸(xī)收了氙燈(dēng)所(suǒ)發出(chū)的(dí)光(guāng)後(hòu)，處於(yú)基態能(néng)級的激活粒子被(bèi)激發(fā)到較的能級，並在(zài)亞(yà)穩態能(néng)級積累(léi)。當(dāng)激發源(yuán)撤(chè)去(qù)後，也就是閃(shǎn)光(guāng)結束後(hòu)，處於(yú)能(néng)態(tài)粒(lì)子的(dí)數密度將(jiāng)按(àn)數規(guī)律衰減。
N=N0×e-t／τ
因(yīn)為(wéi)發光(guāng)強(qiáng)度(dù)與粒子密度(dù)成(chéng)正比，所(suǒ)以(yǐ)熒(yíng)光(guāng)強度(dù)的衰減(jiǎn)也(yě)滿足數規(guī)律(lǜ)即(jí)：
I=I0×e-t／τ
其中NO和(hé)I0分(fēn)別(bié)是剛(gāng)剛(gāng)撒(sā)去激光源時亞穩(wěn)態(tài)粒(lì)子(zǐ)密(mì)度(dù)和熒(yíng)光強度。從以(yǐ)上的分析可知，我(wǒ)們可以(yǐ)利用測(cè)量熒光強(qiáng)度衰減規律(lǜ)的辦法還(huán)測量熒光壽命。
三(sān)，儀器配置(zhì)與(yǔ)參(cān)數
        YAG固體(tǐ)激光器(qì)  光電(diàn)探測器  電(diàn)阻(zǔ)箱  電容箱  示波(bō)器(qì)