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DP15528凝(níng)膠強(qiáng)度測(cè)定(dìng)儀,凝膠時間強(qiáng)度(dù)測試儀
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技(jì)術文(wén)章
電(diàn)阻率(shuài)/方塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試(shì)儀 型號:DP-DB1
更(gēng)新時間:2019-10-18
點(diǎn)擊次數(shù):1955
電阻率/方塊電(diàn)阻(zǔ)測試(shì)儀 型(xíng)號(hào):DP-DB1
本(běn)DP-DB1方(fāng)阻(zǔ)測試(shì)新產(chǎn)品為(wéi)薄膜(mó)測試提(tí)供機械,電(diàn)氣兩(liǎng)方麵的保護,在(zài)寬廣(guǎng)的(dí)量程(chéng)範(fàn)圍內(nèi),使(shǐ)各種電(diàn)子薄膜能得(dé)到準確(què),無損的方(fāng)塊電阻(zǔ)測(cè)量結(jié)果(guǒ)。
由(yóu)於新型薄膜材(cái)料種類繁(fán)多,研製過程中樣(yàng)品(pǐn)性(xìng)能變化較大,而且各(gè)種(zhǒng)薄膜的機械強度(dù),允(yǔn)許(xǔ)承(chéng)受(shòu)的電(diàn)壓(yā),電流均不(bù)相同,因此(cǐ)DP-DB1型測試儀可(kě)為用(yòng)戶量身定製各種特(tè)定(dìng)探針壓(yā)力及曲率半(bàn)徑的探針頭(tóu),儀器(qì)的測試電(diàn)流(liú)分7檔(dàng),可由0.4μA增(zēng)加到大(dà)為1000mA,測試電壓(yā)可由(yóu)8V增加(jiā)到80V,測(cè)試(shì)電(diàn)壓和(hé)測試(shì)電(diàn)流(liú)均(jūn)可連(lián)續(xù)調節(jié),給薄(báo)膜,塗層(céng)的研製者提(tí)供(gōng)了個摸(mō)索(suǒ)測試(shì)條件的寬(kuān)闊空(kōng)間。
由(yóu)於(yú)儀(yí)器(qì)設(shè)有(yǒu)恒流(liú)源(yuán)開關(guān),並且所(suǒ)有電流檔在探針(zhēn)與樣(yàng)品接(jiē)觸後均(jūn)有(yǒu)電流(liú)延(yán)時接通的能,充分(fēn)保護了(liǎo)樣(yàng)品(pǐn)表(biǎo)麵不(bù)會因(yīn)為探針接(jiē)觸時(shí)產(chǎn)生(shēng)的(dí)電(diàn)火(huǒ)花(huā)而受(shòu)到損壞。
DP-DB1儀(yí)器性能
方阻測(cè)量範圍(wéi):1×10-5~2×106Ω/□,小分(fēn)辨率1×10-5Ω/□;
電(diàn)阻率測(cè)量範圍:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,小分辨率(shuài)1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m;
探針(zhēn)壓(yā)力(lì):25g~250g;
探針曲(qū)率(shuài)半徑(jìng):25μm~450μm
(注(zhù):探針(zhēn)壓力及(jí)曲率半(bàn)徑可根據薄膜材料性能及用(yòng)戶(hù)需(xū)求(qiú)定製(zhì));
測試(shì)電(diàn)流分(fēn)7檔(dàng):1μA,10μA,100μA,1mA,10 mA,100 mA,1000 mA;
測試電壓(yā):(1μA~10 mA檔(dàng))12~80V連續可(kě)調
(100mA檔) 8~36V連續(xù)可調(tiáo)
(1000mA檔) 8~15V連續(xù)可(kě)調(tiáo);
測量方式:手動(dòng)或(huò)自動(選配測(cè)試軟(ruǎn)件);
測(cè)量對象:導(dǎo)電(diàn)薄(báo)膜,半(bàn)導(dǎo)體薄(báo)膜(mó),電力電(diàn)容(róng)器鋁(lǚ)箔(bó),各(gè)種金(jīn)屬(shǔ)箔,銀漿塗(tú)層,鋰電池(chí)隔膜(mó)等(děng)各種(zhǒng)新(xīn)型電子(zǐ)薄膜(mó);各種半導體材料(liào)的電阻率。