α，β表麵(miàn)汙染儀 輻(fú)射(shè)檢(jiǎn)測儀(yí) 射綫測定(dìng)儀  型號(hào)：DP2108

α，β表(biǎo)麵(miàn)汙(wū)染(rǎn)儀 輻射檢(jiǎn)測儀 射綫測定(dìng)儀(yí)產品(pǐn)簡介：

采用了雙閃(shǎn)探(tàn)測器，適用於(yú)低(dī)輻(fú)射水平(píng)的(dí)測量(liáng)，可用(yòng)於(yú)α，β表麵(miàn)汙染的檢測。

應(yīng)用域：

儀器(qì)采(cǎi)用(yòng)雙閃探(tàn)測(cè)器，具(jù)有(yǒu)的(dí)探測效率(shuài)；同探頭能(néng)同時測(cè)量α，β，γ，並區分α和β粒(lì)子(zǐ)和(hé)γ劑量率(shuài)，是(shì)環境(jìng)試驗室(shì)，核(hé)學(xué)，分子生物學，放(fàng)射(shè)化學(xué)，和原(yuán)儀料運輸，存儲(chǔ)和(hé)商檢等域行α，β輻(fú)射表(biǎo)麵汙染檢(jiǎn)測(cè)的(dí)儀(yí)器。

α，β表麵汙染(rǎn)儀(yí) 輻射檢測(cè)儀(yí) 射綫(xiàn)測(cè)定(dìng)儀(yí)性能(néng)標(biāo)：

探(tàn)  測  器：雙(shuāng)閃(shǎn)探(tàn)測器 ZnS(Ag)塗(tú)層(céng)，塑料(liào)閃(shǎn)爍體晶體(tǐ)

主(zhǔ)機為(wéi)惰性(xìng)探測器(qì)

主(zhǔ)機γ劑量率(shuài)：0.01--30000μSv/h（可(kě)擴展到10sv/h）

探(tàn)測器麵積： 180cm2

計數範圍(wéi)：1～1000000

探(tàn)測(cè)效率：α≥35%（對239Pu），β≥35%

靈(líng) 敏 度(dù)：α表(biǎo)麵活(huó)度(dù)響(xiǎng)應>7s-1Bq-1cm2；

β表(biǎo)麵(miàn)活(huó)度(dù)響(xiǎng)應>7s-1Bq-1cm2

測量(liáng)本底： 每(měi)分鐘(zhōng)計數α≤0.1CPS，β≤25CPS

測(cè)量時間(jiān)：滑(huá)動(dòng)測(cè)量

顯(xiǎn)示(shì)單(dān)位：CPM，CPS，Bq/cm2，nSv/h(主機γ劑量(liáng))

相對基本(běn)誤差：≤±15%

環境：作溫度(dù)範(fàn)圍(wéi)：-10℃～45℃

相對(duì)濕(shī)度範(fàn)圍(wéi)：≤90%（40℃）

    耗：  整機電(diàn)流≤150mA

電(diàn)氣：供(gōng)電(diàn)電(diàn)源：鋰電(diàn)池

物(wù)理(lǐ)：外殼：程(chéng)ABS