雙(shuāng)電測數字式四(sì)探針(zhēn)測試(shì)儀/雙(shuāng)電測四探(tàn)針檢(jiǎn)測(cè)儀(yí) 型(xíng)號:DP-2263

概(gài)述
DP-2263型(xíng)雙電(diàn)測數字(zì)式四探(tàn)針測(cè)試(shì)儀(yí)是運(yùn)用直(zhí)綫或方形四探針雙(shuāng)位(wèi)測-改形範(fàn)德堡(bǎo)測(cè)量(liáng)方(fāng)法(fǎ)測(cè)試電阻率/方阻的多(duō)用(yòng)途(tú)綜合(hé)測量(liáng)儀(yí)器。該儀器(qì)符(fú)合單(dān)晶矽(guī)物(wù)理測(cè)試(shì)方(fāng)法家(jiā)標準(zhǔn)並參考(kǎo)美(měi) A.S.T.M 標(biāo)準。利(lì)用電流(liú)探(tàn)針，電(diàn)壓探針(zhēn)的變換(huàn)，行兩次電(diàn)測(cè)量(liáng)，對數(shù)據行雙(shuāng)電(diàn)測分(fēn)析(xī)，自動(dòng)消(xiāo)除(chú)樣品(pǐn)幾何(hé)尺(chǐ)寸(cùn)，邊界(jiè)效應以(yǐ)及探(tàn)針不(bù)等(děng)距和機械遊(yóu)移(yí)等因(yīn)素對測量結果(guǒ)的(dí)影響(xiǎng)，它與單(dān)電(diàn)測直綫(xiàn)或(huò)方(fāng)形四探(tàn)針相比，大大提(tí)度，特別是適用(yòng)於(yú)斜置式(shì)四(sì)探(tàn)針(zhēn)對於微區的測試(shì)。
儀(yí)器成套(tào)組成：由主機，選配的(dí)四(sì)探針(zhēn)探(tàn)頭(tóu)，測(cè)試(shì)台(tái)以及PC軟件(jiàn)等(děng)分(fēn)組成(chéng)。
主機(jī)主要(yào)由(yóu)恒(héng)流(liú)源(yuán)，分(fēn)辨率ADC，嵌入(rù)式(shì)單片機(jī)係統(tǒng)組成，USB通訊接(jiē)口。儀器主機(jī)所(suǒ)有參數設定(dìng)，能(néng)轉換(huàn)采用數字化鍵(jiàn)盤(pán)和數(shù)碼開關(guān)輸入(rù)；具有(yǒu)零位(wèi)，滿(mǎn)度自校能(néng)；測試(shì)能(néng)可(kě)自動/手動方式；儀(yí)器操作(zuò)可由配套軟(ruǎn)件(jiàn)在PC機上操(cāo)作(zuò)成，也可脫(tuō)PC機(jī)由(yóu)四探(tàn)針儀(yí)器(qì)麵板(bǎn)上立(lì)操(cāo)作(zuò)成(chéng)。測(cè)試結果數(shù)據(jù)由主機(jī)數碼管(guǎn)直(zhí)接(jiē)顯示，也(yě)可連(lián)機(jī)由軟(ruǎn)件(jiàn)界麵同步(bù)顯示，分(fēn)析，保存(cún)和打(dǎ)印！
探(tàn)頭選配：根據不(bù)同(tóng)材料特性需(xū)要(yào)，探(tàn)頭可有多(duō)款(kuǎn)選(xuǎn)配。有耐(nài)磨碳化(huà)鎢(wū)探(tàn)針探(tàn)頭，以測(cè)試矽(guī)類半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)，金(jīn)屬，導(dǎo)電(diàn)塑料類(lèi)等(děng)硬(yìng)質材(cái)料的電(diàn)阻(zǔ)率/方(fāng)阻；也(yě)有(yǒu)形鍍(dù)金銅(tóng)合金(jīn)探(tàn)針(zhēn)探頭(tóu)，可(kě)測柔性材(cái)料導電(diàn)薄膜，金屬(shǔ)塗(tú)層或(huò)薄膜，陶瓷或(huò)玻(bō)璃等(děng)基底上導電(diàn)膜（ITO膜）或(huò)納米(mǐ)塗(tú)層等(děng)半(bàn)導體(tǐ)材(cái)料的電阻率/方(fāng)阻(zǔ)。換上四端(duān)子測試(shì)夾(jiā)具，還(huán)可對電(diàn)阻(zǔ)器體電(diàn)阻，金(jīn)屬(shǔ)導(dǎo)體(tǐ)的低，中值(zhí)電(diàn)阻(zǔ)以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接(jiē)觸電阻(zǔ)行測(cè)量。
測試台選配(pèi)：般(bān)四探針(zhēn)法(fǎ)測試電阻(zǔ)率/方(fāng)阻配DP-A或DP-B或(huò)DP-C或(huò)DP-F型(xíng)測(cè)試(shì)台(tái)。
詳見《四探(tàn)針(zhēn)儀器，探(tàn)頭和(hé)測試(shì)台的特點與選型參考》
儀(yí)器具有(yǒu)測(cè)量度，靈敏(mǐn)度(dù)，穩(wěn)定(dìng)性(xìng)好(hǎo)，化(huà)程度，測量簡(jiǎn)便，結(jié)構緊(jǐn)湊，使用方(fāng)便等(děng)特點。
儀(yí)器適(shì)用(yòng)於(yú)半(bàn)導體材料廠(chǎng)器(qì)件廠，科(kē)研單(dān)位，等院(yuàn)校(xiào)對導體，半導體，類(lèi)半(bàn)導體(tǐ)材(cái)料的導電性能的測(cè)試(shì)，特(tè)別是(shì)適(shì)用(yòng)於(yú)斜置式四探針對於微區(qū)的測試。
三(sān)，基(jī)本(běn)參數(shù)
3.1  測量(liáng)範圍(wéi)
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分(fēn)辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
方(fāng)  阻：5×10-4～1×106 Ω/□，分(fēn)辨(biàn)率(shuài)：5×10-5～1×102 Ω/□
電  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分(fēn)辨(biàn)率：1×10-6～1×102 Ω
3.2  材(cái)料(liào)尺(chǐ)寸(由(yóu)選配(pèi)測試(shì)台(tái)決(jué)定(dìng)和測(cè)試(shì)方式(shì)決(jué)定)
直    徑(jìng)：DP-A圓(yuán)測試台直(zhí)接(jiē)測(cè)試(shì)方式(shì) Φ15～130mm，手持(chí)方式不限
DP-B/C/F方(fāng)測(cè)試(shì)台直接測(cè)試方式(shì)180mm×180mm，手(shǒu)持方式不(bù)限(xiàn).
長(cháng)()度：測試台(tái)直(zhí)接(jiē)測試方式 H≤100mm,    手持(chí)方(fāng)式不(bù)限.
測量方位: 軸向，徑(jìng)向均(jūn)可

 量(liáng)程劃(huá)分及(jí)誤(wù)差(chà)等(děng)級

四(sì)探針探(tàn)頭(tóu)（選(xuǎn)配其或加配）
(1)碳化(huà)鎢(wū)探針(zhēn)：Φ0.5mm，直綫(xiàn)探針(zhēn)間距(jù)1.0mm，探(tàn)針(zhēn)壓(yā)力(lì): 0～2kg 可調(tiáo)
(2)薄(báo)膜(mó)方(fāng)阻探(tàn)針(zhēn)：Φ0.7mm，直(zhí)綫(xiàn)或方形(xíng)探(tàn)針間距2.0mm，探(tàn)針壓(yā)力: 0～0.6kg 可(kě)調(tiáo)
3.6 電(diàn)源
輸(shū)入: AC 220V±10% ,50Hz   耗(hào)：<20W
3.7 外形尺(chǐ)寸：
主(zhǔ)機  220mm（長(cháng)）×245 mm（寬）×100mm（）