低(dī)阻(zǔ)抗分析(xī)儀/表麵(miàn)阻抗測試(shì)儀(yí) 型(xíng)號:DP-MCP-T370

四探(tàn)針(zhēn)方案(àn)-觸式(shì)度的(dí)各種材料的表麵(miàn)電阻(zǔ)率測量。
查找隻(zhī)需按下(xià)啟動(dòng)按鈕，確(què)認(rèn)自動(dòng)測量能，可(kě)自動保(bǎo)持(chí)當前的測(cè)量值。
電(diàn)池(chí)壽(shòu)命可以采(cǎi)用鎳氫(qīng)電(diàn)池組可(kě)以方(fāng)便(biàn)地(dì)替換(huàn)。
新增(zēng)探頭(tóu)校(xiào)準(zhǔn)模式。檢查探頭(tóu)校(xiào)準片（另售），以(yǐ)確認Roresuta AX測(cè)試值的準確性。
測量(liáng)數(shù)據可(kě)以導出(chū)到USB存儲(chǔ)器。

規格
測(cè)量方(fāng)法	四端四(sì)探(tàn)針法 施(shī)加(jiā)恒(héng)定(dìng)電流(liú)的方(fāng)法
測(cè)量範圍(wéi)	10 -2〜10 6 Ω
標準配(pèi)置(zhì)	四探針探頭（ASP）AC適(shì)配器 說(shuō)明(míng)書 檢(jiǎn)查確(què)認(rèn)書

選(xuǎn)項(xiàng)

探頭(tóu)選(xuǎn)項
類型(xíng)	適用(yòng)被(bèi)測試(shì)樣(yàng)品	型(xíng)號
ESP	對於異類(lèi)樣本(běn)	MCP - TP08P
PSP	小(xiǎo)樣(yàng)本(běn)的薄膜(mó)	MCP - TP06P
QPP	對於小樣(yàng)本(běn)	MCP - TPQPP
TFP	有關(guān)矽晶片或(huò)玻璃基板薄膜	MCP - TFP

校準(zhǔn)塊

型號(hào)：MCP - TRF1