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當(dāng)前位(wèi)置:首(shǒu)頁(yè)產品(pǐn)中(zhōng)心專用儀器儀(yí)表DP-2003頻率(shuài)計(jì)/頻率計/數(shù)字頻率(shuài)計

頻率計(jì)/頻率(shuài)計/數字(zì)頻(pín)率(shuài)計

產品簡(jiǎn)介

頻(pín)率計(jì)/頻(pín)率計/數字(zì)頻(pín)率計 型號:DP-2003

, 概(gài)述
尊敬的(dí)用(yòng)戶(hù),感(gǎn)謝您(nín)選用(yòng)本(běn)儀器(qì)。在使用(yòng)前(qián)請您通(tōng)讀並弄懂本儀(yí)器的(dí)細節,以(yǐ)便正(zhèng)確操(cāo)作(zuò),從而取得的(dí)效果。

產(chǎn)品型號:DP-2003
更新時間(jiān):2018-01-14
廠商(shāng)性質:生(shēng)產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:1444

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頻率計/頻率計(jì)/數(shù)字頻率計 型號(hào):DP-2003

, 概述
尊(zūn)敬的(dí)用(yòng)戶,感(gǎn)謝您選用(yòng)本儀(yí)器(qì)。在使用前請(qǐng)您(nín)通讀並弄懂本(běn)儀(yí)器(qì)的細節,以便(biàn)正(zhèng)確操(cāo)作,從而取得(dé)的(dí)效(xiào)果(guǒ)。
本儀器是(shì)個0.001Hz—2.4G的頻率計,能有(yǒu):頻率(shuài)測量,累計計數(shù),周期(qī)及(jí)晶體測量(liáng),作(zuò)狀態(tài)記憶(yì)等能(néng),可直(zhí)測(cè)數字手機的(dí)射頻頻率(內市場尚未出現(xiàn)),手機GSM製(zhì)射(shè)頻(pín)幀周期,區(qū)別手(shǒu)機(jī)製式(shì)(GSM或(huò)CDMA),以及(jí)晶(jīng)體固有頻(pín)率的(dí)測(cè)量,能由(yóu)個單片計算機來成,故儀(yí)器(qì)體積(jī)小巧,簡(jiǎn)潔緊湊(còu),能多,性能可(kě)靠(kào),且(qiě)價(jià)格低廉,實(shí)是(shì)修理行(háng)業以(yǐ)及電(diàn)子廠調試(shì)*的儀器。
二,標(biāo)
()頻率測量
A,量(liáng)程:
1檔 30 MHz — 2400 MHz
2檔 1 MHz — 30 MHz(具有(yǒu)衰(shuāi)減,“A"抬(tái)起(qǐ),x 1;“B" 按下,x 20)
3檔 10 Hz — 1 MHz(具(jù)有衰(shuāi)減(jiǎn),“A"抬(tái)起,x 1;“B"按(àn)下,x 20)
8檔(dàng) 0.001 Hz — 100 Hz(輸入(rù)幅度:2.5V—5V,TTL電平(píng))
B,閘(zhá)門(mén)時(shí)間(jiān):0.1秒,1秒,5秒,10秒共(gòng)分(fēn)4檔
C,輸入靈敏(mǐn)度(dù):35 mV — 30 V
D,輸入阻抗:30 MHz — 2.4 GHz為50 Ω,其餘(yú)為1 MΩ
E,時基:12 MHz,穩定度為(wéi)2 x 10-6/秒(miǎo)
F,度:基準(zhǔn)時(shí)間誤差 x 頻率 + 1個(gè)計數值(zhí)
G,分辯率:1個(gè)計數值(zhí)(滿(mǎn)量程(chéng)8位數(shù)顯示(shì)時)
(二)周期(qī)測量
6檔(dàng)(下降沿有(yǒu)效(xiào)),由(yóu)“常(cháng)態/放大"開(kāi)關行選(xuǎn)擇。10 Hz—30 MHz輸(shū)入(rù)端輸入。輸入幅度2.5—5V,TTL電(diàn)平(píng),zui大(dà)不過5V。zui小(xiǎo)周期(qī)為30us,zui大周期為(wéi)4294967295us,可顯(xiǎn)示(shì)周(zhōu)期數(shù)值(zhí)99999999,分(fēn)辯率為(wéi)1us。
(三(sān)) 累(léi)計(jì)計數(shù):4檔位10 Hz—30MHz 輸(shū)入(rù)端輸(shū)入(rù),其分(fēn)辯(biàn)率為1個計數(shù)值。
(四) 晶體測(cè)量(liáng):5檔位(wèi) 插口(kǒu)A測(cè)30 KHz — 5MHz(晶(jīng)體鍵(jiàn)彈(dàn)出),插口B測2 MHz — 24 MHz晶體(tǐ),實際可(kě)測到50MHz(晶體(tǐ)健(jiàn)按下)。
三, 本(běn)儀器的特點
A,測量(liáng)範圍寬(kuān),度:可測(cè)0.001Hz—2400MHz的(dí)正弦波,方(fāng)波(bō),三角波(bō)等信(xìn)號的(dí)頻率(shuài)。
B,具有多種測量(liáng)能:
① 可測數字手機(jī)的(dí)射頻頻(pín)率(815—960MHz,1800—1990MHz)以及對講機(jī),無綫(xiàn)機(jī)的(dí)發(fā)射(shè)頻(pín)率。
② 可識別手(shǒu)機的(dí)製(zhì)式(GSM或(huò)CDMA)。
③ 可測GSM製的(dí)射(shè)頻(pín)周期(周期為4615us)。
④ 可測石英(yīng)晶體振蕩器的固有(yǒu)頻率(30 KHz — 50MHz)。
⑤ 可(kě)測輸入信(xìn)號(hào)的(dí)周期。
⑥ 可對(duì)輸(shū)入信號累計計數(shù),切斷儀器(qì)電源(yuán)後(hòu)能(néng)保存上次的原(yuán)有狀態,及(jí)具有記憶(yì)能(néng)。
四(sì), 儀器的使(shǐ)用
A,頻(pín)率(shuài)的測(cè)量(liáng):
① 選擇合(hé)適(shì)的信(xìn)號(hào)輸入端(duān):本儀(yí)器(qì)麵(miàn)板左邊有三個(gè)信號輸(shū)入(rù)端(duān),zui上為(wéi)30MHz—2.4GHz信號輸入(rù)端,中間(jiān)為10Hz—30MHz信(xìn)號輸(shū)入(rù)端,下麵為0.001Hz—100Hz信號輸入(rù)端(duān),(2.5V—5V有效)。
② 按動“閘門(mén)"按(àn)鍵,選(xuǎn)好合適的(dí)閘門時(shí)間(jiān),每(měi)按(àn)動(dòng)次“閘門"按鍵(jiàn),閘門時間就(jiù)變(biàn)化(huà)次,按照(zhào)0.1秒(miǎo)—1秒—5秒(miǎo)—10秒循(xún)環(huán)變(biàn)化(huà)。閘門(mén)時間越長,分辨率(shuài)越,但測試速(sù)度也(yě)越(yuè)慢(màn)。
③ 按動“檔(dàng)位(wèi)"按鍵(jiàn),測(cè)頻率應選擇1,2,3,8各檔位中的(dí)個,每檔(dàng)測量(liáng)頻(pín)率範圍如下(xià):
1檔 30MHz——2400MHz
2檔(dàng) 1MHz—30MHz(具有(yǒu)衰減(jiǎn),“A"抬起,x 1;“B"
按下(xià),x 20)
3檔(dàng) 10Hz—1MHz(具有衰(shuāi)減(jiǎn),“A"抬(tái)起,x 1;“B"按
下,x 20)
8檔(dàng) 0.001Hz—100Hz(輸(shū)入幅度:2.5V—5V,TTL電平(píng))
④ 按“確定"鍵後,即(jí)開始測量(liáng)並(bìng)顯示。
由(yóu)於低頻(pín)率時是阻抗,而測(cè)試的頻率(shuài)為低阻(zǔ)抗(kàng)(如測(cè)試(shì)50Hz交(jiāo)流電源(yuán)),此時會(huì)產生阻抗(kàng)嚴重失(shī)配,可在低(dī)頻的探(tàn)頭上串接個(gè)1MΩ的電(diàn)阻。
B,周期的(dí)測量(liáng):
① 可測(cè)量(liáng)周(zhōu)期的(dí)範圍:30us—1.19 h,但zui多隻能(néng)顯示8位數字。
② 選用(yòng)中(zhōng)間個輸入(rù)端口(kǒu),測小信號時(shí)(35MV—5V)按下“常態/放大"鍵,“A,B“抬起。測大(dà)信號時(shí),“A,B"鍵和“常態(tài)/放(fàng)大"鍵(jiàn)同時(shí)按(àn)入。
③ 如(rú)TTL電平從(cóng)zui下麵(miàn)的(dí)輸(shū)入(rù)端輸入,幅度(dù)為(wéi)2.5V—5V有效,“常(cháng)態/放大(dà)"鍵和“A,B"鍵均(jūn)抬起。
④ 按(àn)動“檔位"鍵(jiàn),選6檔(dàng),按(àn)“確(què)定(dìng)"鍵後即(jí)開(kāi)始(shǐ)測(cè)量並顯(xiǎn)示,單位為(wéi)微秒(miǎo)。
C,累計(jì)計(jì)數的(dí)方(fāng)法(fǎ):
① 選用10Hz—30MHz端口(kǒu)作累計計(jì)數(shù)輸入(rù)端。
② 檔(dàng)位選4檔,按下“確定"鍵後即(jí)開始(shǐ)計數。
③ 停止計(jì)數需切斷(duàn)信號(hào)源。
D,石英晶體(tǐ)固(gù)有(yǒu)振(zhèn)蕩(dàng)頻(pín)率的測量:
① 選(xuǎn)好(hǎo)合適(shì)的晶(jīng)體(tǐ)測量口(kǒu):本(běn)儀器麵板提供兩個晶體測量(liáng)口(kǒu),由麵板(bǎn)A,B晶(jīng)體按鍵來(lái)選(xuǎn)擇(zé)。A口可(kě)測(cè)30KHz—4MHz晶(jīng)體(tǐ),B口可測2MHz—24MHz晶體(實際可測到50MHz以上的(dí)晶體(tǐ),24MHz以(yǐ)上(shàng)晶體(tǐ)用顯示值乘(chéng)以3即(jí)為實際振蕩頻率)。
② 按動“閘門"鍵(jiàn),選好(hǎo)合適的閘門時(shí)間(jiān)。
③ 按動“檔(dàng)位(wèi)"鍵(jiàn),選5檔,按“確(què)定(dìng)"鍵後即(jí)開(kāi)始(shǐ)測量(liáng)並顯(xiǎn)示。
E,手(shǒu)機製(zhì)式的識別:
① 在30MHz—2.4GHz輸(shū)入(rù)端口插根(gēn)長約5公分左(zuǒ)右的導(dǎo)綫(xiàn)作接(jiē)收(shōu)天(tiān)綫。
② 選(xuǎn)6檔位,按“確(què)定"鍵,“常態(tài)/放大"鍵抬起。
③ 用手機撥號後(hòu)如(rú)出現4615us或它(tā)的整頻倍(bèi)時,則(zé)表(biǎo)明該手機是GSM製式,反之是CDMA製(zhì)。測(cè)量時出(chū)現(xiàn)7-8個微秒(miǎo)的誤(wù)差屬(shǔ)正常(cháng)現象。
F,手機(jī)發射(shè)頻率(shuài)的(dí)測量:
① 在30MHz—2.4GHz輸(shū)入端(duān)口(kǒu)插(chā)根長約5公(gōng)分左右(yòu)的導(dǎo)綫作接(jiē)收天綫。
② CDMA製手機和模擬(nǐ)手機(jī)選(xuǎn)用1檔(dàng),GSM手機選用7檔(dàng),閘門均(jūn)選(xuǎn)用0.1秒,“常(cháng)態/放(fàng)大(dà)"鍵抬(tái)起。
③ 按“確(què)定"鍵後(hòu),用手(shǒu)機撥號即(jí)可(kě)測出(chū)並顯(xiǎn)示(shì)手機(jī)發(fā)射頻(pín)率。
五(wǔ), 注(zhù)意(yì)事項(xiàng)
①測量頻強輻(fú)射信號時,無綫方(fāng)式應遠(yuǎn)離信號源,有(yǒu)綫方式應(yīng)串接(jiē)大電阻,如果信(xìn)號(hào)過30V時(shí),還應按下麵板A,B晶(jīng)體(tǐ)選擇按鍵(jiàn)(20倍衰(shuāi)減(jiǎn)器)以免損(sǔn)壞(huài)儀器。
②本(běn)機(jī)在無信(xìn)號輸(shū)入時(shí),可能是(shì)非零(líng)顯示,這是正(zhèng)常(cháng)現(xiàn)象(xiàng),不(bù)影響測試度。
③有時儀(yí)器可(kě)能(néng)出現下(xià)列(liè)現象:數(shù)碼管顯示出非(fēi)正(zhèng)常(cháng)數字(缺(quē)筆畫),數碼管會停(tíng)止刷(shuā)新數(shù)字,這並非儀器出現(xiàn)故障(zhàng),隻要(yào)再按下(xià)復位(wèi)鍵(jiàn),儀(yí)器便(biàn)可恢復正常作。
④本機(jī)采(cǎi)用(yòng)新版(bǎn)CPU,程序已(yǐ)經過加(jiā)密(mì)處(chǔ)理。如(rú)用(yòng)戶私(sī)自解(jiě)密成程序損壞(huài),
不屬保修範圍(wéi)。
⑤測(cè)量手(shǒu)機(jī)射頻和幀周期(qī)時(shí),並(bìng)不(bù)是穩定地(dì)顯示(shì)某(mǒu)數(shù)值,這是手(shǒu)機(jī)通信(xìn)原(yuán)理(lǐ)所決(jué)定的,並非儀(yí)器不穩定(dìng)。
⑥8檔(dàng)位的測量(liáng)單(dān)位是(shì)Hz,6檔位的測量單位是微秒。
⑦測對(duì)講機發射(shè)頻率應(yīng)根(gēn)據(jù)對(duì)講機的頻率(shuài)範圍(wéi)選擇(zé)合適(shì)的檔位,且對講機應(yīng)由(yóu)遠(yuǎn)近(jìn)靠近(jìn)頻(pín)率計(jì)。
⑧測(cè)BP機,子母機,對(duì)講(jiǎng)機的本振(zhèn)頻率(shuài)應(yīng)在探頭(tóu)上(shàng)串(chuàn)接(jiē)隻(zhī)5 P左(zuǒ)右的小電容(róng)後去探(tàn)測測量(liáng)點。
⑨測(cè)量手(shǒu)機(jī)射(shè)頻頻率,測周期,測射(shè)頻(pín)幀(zhēn)周期(qī),計數和(hé)測晶體,共用了個(gè)
示燈(dēng)。
六, 其它
①電(diàn)源:交(jiāo)流(liú)220 V±20 %,50 Hz
②環境(jìng)溫度(dù):-5℃- + 40℃(正常(cháng)作時(shí)需(xū)預(yù)熱10分鐘)
③相(xiāng)對濕度:10%-90% RH
④外形尺寸(cùn):202mm (寬)x 75 mm()x 230 mm(長)
⑤重量:約(yuē)1Kg
⑥附件:測試電纜綫根,電源綫根,說(shuō)明書份。


頻率計/頻率(shuài)計(jì)/頻(pín)率(shuài)計(jì)/數字頻(pín)率計(jì) 型號(hào):DP2000

本儀(yí)器(qì)可(kě)測量10Hz-2.4G之(zhī)振蕩(dàng)頻率,具有(yǒu)七位(wèi)亮度LED顯(xiǎn)示(shì),該(gāi)機性能(néng)穩定,測量度,體積(jī)小,重量輕,價格低(dī)廉,是個既能(néng)測頻(pín)率(shuài)又能測(cè)周(zhōu)期,計(jì)數和(hé)電容(róng)測試(shì)儀(yí)器。


, 頻率計(jì):
1, 測量(liáng)範(fàn)圍: 10Hz-2.4GHz
2, 量(liáng)程(chéng): (1) 檔 10Hz-10MC
(2) 檔(dàng) 10Hz-50 MC
(3) 檔(dàng) 50MC-2400 MC

3, 閘門時間:0.02S,0.2S,2S選(xuǎn)
4, 靈(líng)敏度(dù):≤20mV
5, 阻抗:1MΩ,50Ω
6, 度(dù):基準(zhǔn)時(shí)間(jiān)誤(wù)差 x 頻(pín)率(shuài) ±1計數(shù)值
7, 數顯(xiǎn):7位
二,周(zhōu)期(qī):
1, 測量(liáng)範圍(wéi):1-9999999S
2,閘(zhá)門時間(jiān):0.01S,0.1S,1S 選
三,計數:1-9999999
四(sì),電容:測(cè)量(liáng)範圍 10P-5000UF誤差±5%
五,電源(yuán)電壓(yā):220V ±20% 50Hz
六,計(jì)數測(cè)量(liáng):按下“計數鍵(jiàn)", “G"燈亮(liàng),再(zài)按“清(qīng)零(líng)鍵",清(qīng)零復位(wèi),脈(mài)衝由低頻輸入口(10Hz-50Mc)輸(shū)入(rù),然(rán)後開始(shǐ)計數(shù)。
七,電(diàn)容測(cè)量(liáng):按(àn)下(xià)電(diàn)容(róng)鍵,將(jiāng)電(diàn)容用隨(suí)機所(suǒ)附(fù)的測試(shì)綫接(jiē)入(rù)CX插(chā)座(電解電(diàn)容(róng)注意性,紅(hóng)插座接(jiē)+)根據所測(cè)電(diàn)容(róng)選擇適當(dāng)量程10UF或10KVF,該開(kāi)關處於復位狀(zhuàng)態(tài)時,測10p-10UF,按(àn)下(xià)時測0.01UF-5000UF,測10P-50P電(diàn)容(róng)時(shí)要減(jiǎn)去分布電容8P,電(diàn)容容量較大(dà)時(shí),所(suǒ)需測(cè)量的(dí)時(shí)間較長。
八(bā),晶體測量(liáng):按下10UF電容鍵(jiàn)和閘(zhá)門(mén)鍵(jiàn),頻(pín)率(shuài)選(xuǎn)用(yòng)10M或(huò)50M檔(dàng),接(jiē)口在晶振插口(kǒu)測得晶(jīng)振值,測(cè)量範圍(wéi)2M-24M。
九(jiǔ),附件:測試電纜(lǎn)綫二根(低頻(pín)黑色,頻(pín)灰色各根);晶振(zhèn),電(diàn)容(róng)測(cè)試綫(xiàn)對;電源(yuán)綫根(gēn);說明書份(fèn)。

注意!電(diàn)壓,容(róng)量(liáng)的電(diàn)容(róng)放(fàng)電(diàn)後(hòu)測量,否則(zé)會(huì)損壞(huài)本儀器(qì)。在測量(liáng)過程中OF發(fā)光管(guǎn)作時,說(shuō)明(míng)被測(cè)量數(shù)值(zhí)已溢出(chū),請選(xuǎn)檔(dàng)量(liáng)程.


自動(dòng)漆膜(mó)幹燥(zào)時間(jiān)測定(dìng)儀/ 型號(hào):DPQGZ

說明(míng):為了(liǎo)麵(miàn)詳細了解塗層幹(gān)燥和(hé)固(gù)化過(guò)程(chéng),需要(yào)有種(zhǒng)可自動(dòng)測(cè)定塗膜幹(gān)燥(zào)過程(chéng)時間的儀器,這樣可以方便試驗(yàn)人員(yuán)準確而(ér)效(xiào)得(dé)到(dào)個科(kē)學數據,DPQGZ-24自(zì)動漆膜(mó)幹(gān)燥時間(jiān)測定儀原理(lǐ)為(wéi)選用單片微(wēi)機(jī)控製(zhì)度(dù)步電機(jī),帶(dài)動麵觸點(diǎn)的劃(huá)杆,在定(dìng)的載(zǎi)荷下通(tōng)過恒(héng)定(dìng)速(sù)度,劃針匀(yún)速在(zài)待測漆(qī)膜(mó)表(biǎo)麵做圓周運動,通(tōng)過劃針在塗膜表麵(miàn)軌跡用幹(gān)燥時間圖表覆蓋(gài)後來判定塗料(liào)成(chéng)膜過(guò)程。


主要(yào)標(biāo):
電(diàn)源(yuán):220V±10%,50HZ
劃(huá)杆旋(xuán)轉(zhuǎn)周速度:24h/r
劃針半(bàn)徑:0.25/0.5/1.0/1.5mm



多用頻率計(jì)/數字頻率計(jì)/數(shù)字(zì)頻率(shuài)儀 型號:DP-3B

*章(zhāng) 概 述(shù)
,概述:
DP-3B型(xíng)數(shù)字頻率(shuài)計具(jù)有(yǒu):頻率測量,脈(mài)衝計數及晶(jīng)體(tǐ),彩(cǎi)電(diàn)中(zhōng)周(zhōu)校(xiào)準等(děng)能,並有三檔時(shí)間(jiān)閘門,五(wǔ)檔能供選擇和(hé)八位LED數碼顯示,頻率(shuài)從10Hz—2400MHz的(dí)頻(pín)率計(jì)。能(néng)是(shì)用(yòng)個(gè)單片微處理(lǐ)器(qì)(CPU)來(lái)成的(dí),從而整機性能穩定(dìng),體(tǐ)積小(xiǎo),使用(yòng)攜帶(dài)方便(biàn),是種性能(néng),低價位的理(lǐ)想數字化儀表。
二,條件及(jí)說明:
1,測量(liáng):
(1)輸入端口(kǒu)
a,30 MHz — 2400 MHz 的頻通(tōng)道端口
b,10 Hz — 30 MHz的低頻(pín)通道端口
c,晶(jīng)振插(chā)孔(kǒng)為晶(jīng)體測(cè)量端(duān)口(kǒu)
(2)頻(pín)率測(cè)量
a,量程:
C 0ㄈh 為(wéi)“0"檔 測量頻(pín)率(shuài)為30 MHz — 2400 MHz
C 1ㄈh 為(wéi)“1"檔 測(cè)量(liáng)頻(pín)率(shuài)為30 MHz — 800 MHz
C 2ㄈh 為“2"檔 測量頻率為100 KHz — 30 MHz
C 3ㄈh 為(wéi)“3"檔 測(cè)量頻率為10 Hz — 30 MHz
b,分辯率:
1 Hz, 10 Hz, 100 Hz
c,度:
±1計數值(zhí)±基(jī)準時間誤差x 頻率(shuài)
d,閘門時(shí)間(jiān):
0.1S, 1S, 10S
e,輸入(rù)靈(líng)敏度:
20 MV
f,輸入(rù)阻抗:
50 Ω/ 1 MΩ
j,zui大輸(shū)入(rù)電壓:
30 V
2,計數(shù)測量:
在(zài)“4"檔(dàng)位( C4ㄈh)由(yóu)10 Hz — 30 MHz插口輸入(rù),分辯率為±1輸入(rù)計數值。
3,晶體測量:
在“2"和(hé)“3"檔(dàng)位(wèi)上從麵(miàn)板(bǎn)晶(jīng)振輸入(rù)插孔(kǒng)插(chā)入欲測之晶(jīng)體,測試(shì)晶(jīng)振(zhèn)範
圍為100KHz — 40 MHz(24MC以上為測量值(zhí)x3)。
4,中(zhōng)周(zhōu)校(xiào)準:
①頻率範(fàn)圍: A單片(piàn)機,四(sì)片機(jī)的(dí)視頻(pín)檢波(bō)中周37.8MHz
AFT:37MHz
B 兩片(piàn)機(jī)的(dí)視(shì)頻(pín)檢波中周(zhōu) 38.7MHz
AFT:37.8MHz
②頻率誤差:±0.2MHz
5,電(diàn)源電壓(yā):AC 220 V ± 10% ; 頻率50 Hz
6, 耗: 3 W
7,溫(wēn) 度(dù): 使用範(fàn)圍 -5℃ — +50℃
存(cún)放運(yùn)輸(shū) -40℃ — +60℃
8,濕 度(dù): 10-90 % RH 存(cún)放(fàng)運輸(shū) 5-90 % RH
9,預(yù)熱時間(jiān):10分鐘
10,尺(chǐ) 寸:200 x 60 x 160 (mm)
11,重 量(liáng):約0.5 Kg
二(èr)章 操(cāo)作方法
1,頻率(shuài)的(dí)測(cè)量:當(dāng)測(cè)量的(dí)頻(pín)率為10 Hz — 30 MHz時,“晶體,中周(zhōu)"鍵(jiàn)
彈出(chū),將隨(suí)機(jī)所配(pèi)的測(cè)試(shì)綫插入(rù)下(xià)麵(miàn)的(dí)插座(zuò)中,按動“檔位(wèi)"按鈕(niǔ)到“2"檔或“3"檔,按(àn)動“閘(zhá)門(mén)"按(àn)鈕,當測(cè)試(shì)頻(pín)率為800 MHz以上(shàng)時,可選(xuǎn)用本(běn)機上(shàng)麵的插座,按動“檔(dàng)位(wèi)"鍵到(dào)“0"檔,當(dāng)頻率小於800 MHz時,請選用“1"檔,同(tóng)時(shí)選(xuǎn)用適(shì)當的(dí)閘門(mén)時(shí)間,頻率越低,選用的閘門時(shí)間(jiān)越長,反之越短(duǎn)。
由(yóu)於低(dī)頻(pín)率時(shí)是阻抗,而測(cè)試的(dí)頻率(shuài)為(wéi)低(dī)阻抗(kàng)(如(rú)測試(shì)50Hz交(jiāo)流電(diàn)源(yuán)),此(cǐ)時會產生阻抗嚴重失配(pèi),可在低(dī)頻的探頭上串(chuàn)接個(gè)1MΩ的(dí)電阻(zǔ)。
2,晶體(tǐ)的測(cè)量(liáng):將(jiāng)“晶(jīng)體,中周"鍵按(àn)下(xià),“檔(dàng)位"按鈕(niǔ)到(dào)“2"檔或“3"檔,測量100KHz—3MC,麵(miàn)板插孔為1,2孔(kǒng),3MC—24MC,麵板插(chā)孔為3,4孔(kǒng)。
3,中(zhōng)周校(xiào)準:將“晶體,中周(zhōu)"鍵按下,“檔位"按鈕到(dào)“0"檔,將中周(zhōu)插入(rù)麵(miàn)板插(chā)座的下(xià)方。兩片(piàn)機(jī)中(zhōng)頻中周頻(pín)率(shuài)範圍大約在(zài)38.9MC,單片(piàn)機和(hé)四片機大約(yuē)在(zài)37.8MC,AFT中周單(dān)片(piàn)機(jī)大(dà)約37MHz,兩(liǎng)片機(jī)大約37.8,根(gēn)據實踐(jiàn)經驗確(què)定)。拆下電(diàn)視機的圖象(xiàng)中頻中周或AFT中周(zhōu),將(jiāng)與中(zhōng)周綫(xiàn)圈並聯的(dí)瓷(cí)管電(diàn)容(róng)拆開,選擇隻電(diàn)容(róng)(47P-75P)並接(jiē)在中(zhōng)周的腳上,再(zài)將中周相應的腳,插(chā)入麵板(bǎn)插(chā)座下(xià)麵(miàn)的插(chā)孔中(zhōng),此(cǐ)時即顯示(shì)頻率值,無感(gǎn)起子緩(huǎn)慢調(tiáo)節(jié)磁芯(xīn),
到相(xiāng)應的數值(zhí)。AFT檢波(bō)綫(xiàn)圈(quān)應顯示(shì)在37.8MC上(shàng)。注(zhù)意有的(dí)電(diàn)視機(jī)的中(zhōng)周殼(ké)
中不帶(dài)諧振(zhèn)電容,而是(shì)按(àn)裝(zhuāng)在綫路(lù)板(bǎn)上,這(zhè)種情(qíng)況應將(jiāng)中(zhōng)周和(hé)電(diàn)容起拔(bá)下,並聯(lián)好(hǎo)後(hòu)再(zài)調校(校(xiào)後(hòu)裝入電視(shì)機上(shàng),有(yǒu)的需要(yào)左(zuǒ)右微動磁(cí)芯(xīn)少(shǎo)許)。
4,計數:在(zài)10 Hz — 30 MC插(chā)口(kǒu),接入(rù)電脈衝,“檔位(wèi)"選(xuǎn)至“4",即(jí)
可(kě)計(jì)數。
三章 附(fù) 件(jiàn)
1,說(shuō)明(míng)書份(fèn)
2,測試電纜綫(xiàn)根(gēn)
3,電(diàn)源綫根(gēn)


鉛筆硬(yìng)度(dù)計(jì)/便攜式(shì)鉛筆劃痕(hén)試(shì)驗(yàn)儀 型號:DPQHQ

鉛(qiān)筆硬(yìng)度(dù)儀塗膜(mó)硬度塗料(liào)塗料(liào)使用(塗表)行業便(biàn)攜式(shì)鉛筆劃(huá)痕(hén)試驗(yàn)儀

)用(yòng)途

塗(tú)膜(mó)硬度(dù)是塗料(liào),塗料使(shǐ)用(塗裝(zhuāng))行業行質量認定的測(cè)標。鉛筆劃(huá)痕(hén)法測(cè)試塗膜(mó)硬(yìng)度(dù)是自(zì)八(bā)十年代以來被普(pǔ)遍采用測試(shì)的方法(fǎ)。我也已在(zài)塗料(liào)的發展(zhǎn)研(yán)究和業中(zhōng)推廣這(zhè)種(zhǒng)測(cè)試(shì)方法。本儀器(qì)是根(gēn)據(jù)家標準“塗(tú)膜(mó)硬度鉛(qiān)筆測定(dìng)法(fǎ)"GB/T6739-1996的。儀器(qì)即(jí)可在(zài)實驗(yàn)室(shì)使用,也(yě)可(kě)用(yòng)於(yú)施現(xiàn)場,並能(néng)在意(yì)方向上(shàng)對(duì)塗膜硬度(dù)行檢(jiǎn)定。

二)參數荷重(zhòng):1000±1g鉛筆(bǐ)與試樣夾角(jiǎo):45°鉛筆規格(gé):6H-6B劃痕(hén)速度:1mm/S

三(sān))使用(yòng)方法:

參數(shù)

1.準備般為(wéi)平滑馬口鐵(tiě)板120*50*(0.2~0.3)mm或產品(pǐn)另行規定(dìng)的(dí)底材(cái)及尺寸.

2.用鉛(qiān)筆(bǐ)刀(dāo)小心把(bǎ)每隻鉛(qiān)筆(bǐ)前端(duān)削(xiāo)去木(mù)質(zhì)分.露出(chū)3毫米柱狀鉛芯(xīn)(不(bù)可使鉛(qiān)芯鬆(sōng)動或(huò)削(xiāo)傷鉛(qiān)芯(xīn)).

3.儀器放(fàng)在平(píng)整(zhěng)的作台(tái)上(shàng),將(jiāng)墊(diàn)塊放在(zài)儀器(qì)下.將(jiāng)削好(hǎo)的鉛插入儀(yí)器(qì)主體孔內,鉛(qiān)筆芯菱(líng)邊(biān)接觸到作台(tái),旋緊螺釘使(shǐ)孔內(nèi)鉛筆夾(jiā)緊(反(fǎn)旋(xuán)螺(luó)釘可(kě)卸下(xià)鉛(qiān)筆),,反復調緊固定(dìng)鉛(qiān)筆(bǐ).去掉(diào)墊(diàn)塊將儀(yí)器(qì)放(fàng)在(zài)被(bèi)測(cè)試(shì)板上,用力(此力(lì)大(dà)小使鉛(qiān)芯端緣(yuán)破碎或犁傷塗膜)以每秒1MM的(dí)速度向(xiàng)前推(tuī),從zui硬的鉛(qiān)筆開(kāi)始(shǐ),每級(jí)鉛(qiān)筆犁(lí)五道3MM長的(dí)痕跡(jì),直(zhí)至找出(chū)不能犁傷(shāng)塗(tú)膜的鉛(qiān)筆為止.此鉛筆硬度即代表所測(cè)塗膜的鉛(qiān)筆硬(yìng)度(dù)(具體(tǐ)判定方(fāng)法(fǎ)根據(jù)GB/T6739-1996標(biāo)準的規定(dìng)行(háng)).

四)維護和保(bǎo)養:實驗結(jié)束後,將儀(yí)器擦拭幹(gān)淨(jìng)放入(rù)儀器盒內(nèi),置(zhì)於幹燥(zào)處.

能用途:

本鉛筆(bǐ)硬度計依據(jù)GB/T6739-1996。塗抹表麵對(duì)作用(yòng)其上的(dí)另(lìng)硬度(dù)較大的(dí)物(wù)體,所表(biǎo)現(xiàn)的阻力(lì),也就是(shì)測定漆(qī)膜(mó)抵抗(kàng)變形(xíng)的(dí)能力。以(yǐ)鉛(qiān)筆(bǐ)標號表(biǎo)示。適用於塗膜(mó)硬(yìng)度測試。

二,參(cān)數(shù):
1.試(shì)驗(yàn)儀(yí):要(yào)保證砝(fǎ)碼的重(zhòng)量1000±50g垂(chuí)直(zhí)作用(yòng)於鉛筆芯與(yǔ)試(shì)驗台(tái)交點上(shàng),使(shǐ)鉛(qiān)筆與試(shì)驗台保持45度夾(jiā)角不(bù)變(biàn)。試(shì)驗台(tái)可(kě)移動,用(yòng)鉛筆(bǐ)劃出痕跡。
2.組(zǔ)中華(huá)牌(pái)繪(huì)圖鉛筆(bǐ)HB,1H-6H,1B-6B共(gòng)13支。鉛(qiān)筆製備(bèi):削(xiāo)去木杆露(lòu)出(chū)3mm鉛芯,在砂紙上畫圓圈(quān),將鉛筆尖磨成(chéng)平(píng)麵使(shǐ)邊緣銳利(lì)。


注(zhù):產品詳細介(jiè)紹(shào)資(zī)料(liào)和上(shàng)麵(miàn)顯(xiǎn)示(shì)產品(pǐn)圖片是(shì)相對應(yīng)的(dí) 

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