產(chǎn)品中(zhōng)心(xīn)
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產(chǎn)品(pǐn)中(zhōng)心(xīn)
專(zhuān)用(yòng)儀器(qì)儀表
DP-RTS-9雙電測(cè)四探針(zhēn)測(cè)試儀(yí)/四探針測試儀(yí)/四探針檢測(cè)儀/雙電(diàn)測四探針測定儀/雙電(diàn)測四探針電(diàn)阻率測(cè)試(shì)儀(yí)

雙電(diàn)測四(sì)探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀(yí)/四探針(zhēn)測試儀/四(sì)探針檢測(cè)儀/雙電(diàn)測四探針(zhēn)測定儀(yí)/雙(shuāng)電(diàn)測四(sì)探針電阻(zǔ)率(shuài)測試儀
產品簡介
product
產(chǎn)品分(fēn)類雙(shuāng)電(diàn)測四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試(shì)儀/四探針(zhēn)測試(shì)儀(yí)/四探針檢測儀(yí)/雙(shuāng)電(diàn)測(cè)四(sì)探針測定(dìng)儀(yí)/雙電測(cè)四探針電阻(zǔ)率(shuài)測試儀(yí) 型號:DP-RTS-9
采用了四探針雙(shuāng)電(diàn)測(cè)組合(亦稱雙位組(zǔ)合(hé))測量新,將範德(dé)堡測(cè)量方(fāng)法(fǎ)推廣應用到(dào)直(zhí)綫(xiàn)四(sì)探(tàn)針上(shàng),利用電(diàn)流探(tàn)針(zhēn),電壓探(tàn)針的(dí)變換,在(zài)計算(suàn)機(jī)控製下行(háng)兩次電測量,能自動消除樣(yàng)品幾何(hé)尺寸,邊界效(xiào)應以(yǐ)及探針不(bù)等(děng)距和(hé)機械遊移(yí)等(děng)因素(sù)對(duì)測量結(jié)果的(dí)影(yǐng)響。因(yīn)而每次測量不知道探(tàn)針(zhēn)間(jiān)距(jù),樣(yàng)品尺寸及探(tàn)針(zhēn)在(zài)樣品(pǐn)表麵上的位置。由於每(měi)次測量都(dū)是對(duì)幾何因(yīn)素的(dí)影(yǐng)響行(háng)動態的(dí)自(zì)動(dòng)修正(zhèng),因(yīn)此顯(xiǎn)著降低(dī)了幾何因素影(yǐng)響,從(cóng)而(ér)提了(liǎo)測量結果的準確(què)度。所(suǒ)有(yǒu)這些(xiē),用(yòng)目前(qián)大量使用的(dí)常規四探針測(cè)量方(fāng)法(fǎ)所的儀器(qì)是無(wú)法實(shí)現(xiàn)的(dí)。
是(shì)個運行在計算機上(shàng)擁有(yǒu)友好測試(shì)界(jiè)麵(miàn)的(dí)用(yòng)戶程(chéng)序。測試程序(xù)在計算機與(yǔ)RTS-9型四(sì)探針測試儀(yí)連(lián)接(jiē)的(dí)狀態下,通(tōng)過計算(suàn)機(jī)的(dí)並(bìng)口實(shí)現通訊(xùn)。
測試程(chéng)序控製四(sì)探(tàn)針(zhēn)測試儀(yí)行測(cè)量並(bìng)實(shí)時采(cǎi)集兩次(cì)組合(hé)模式下的測試數(shù)據,把采集到(dào)的(dí)數(shù)據(jù)在計算機中加(jiā)以分(fēn)析,然(rán)後把(bǎ)測(cè)試(shì)數據以表格,圖形直(zhí)觀(guān)地記(jì)錄(lù),顯(xiǎn)示出(chū)來。用戶(hù)可(kě)對(duì)采集到的數據(jù)在電腦(nǎo)中(zhōng)保(bǎo)存或(huò)者(zhě)打(dǎ)印以(yǐ)備日後參考和(hé)查看(kàn),還(huán)可(kě)以把采(cǎi)集到(dào)的(dí)數(shù)據輸出到(dào)Excel中,讓(ràng)用(yòng)戶對(duì)數(shù)據行各種(zhǒng)數據分(fēn)析(xī)
| 測量範圍(wéi) | 電阻率:10-4~105 Ω.cm(可擴(kuò)展); |
| 可(kě)測(cè)晶(jīng)片(piàn)厚度 | ≤ |
| 可測(cè)晶片直徑 | 140mmX |
| 恒(héng)流源(yuán) | 電(diàn)流量(liáng)程分為1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA六檔,各(gè)檔(dàng)電(diàn)流連續可(kě)調 |
| 數字(zì)電(diàn)壓表(biǎo) | 量程(chéng)及表示形式(shì):000.00~199.99mV; |
| 四探(tàn)針(zhēn)探頭基本標 | 間距(jù):1± |
| 四探(tàn)針探(tàn)頭(tóu)應用(yòng)參(cān)數 | (見探頭附帶的合(hé)格證) |
| 模擬(nǐ)電阻(zǔ)測量相對誤(wù)差(chà) | 0.01Ω,0.1Ω,1Ω,10Ω,100Ω,1000Ω,10000Ω≤0.3%±1字 |
| 整(zhěng)機測(cè)量zui大相對(duì)誤(wù)差(chà) | (用(yòng)矽標樣(yàng)片:0.01-180Ω.cm測(cè)試(shì))≤±4% |
| 整機測(cè)量標(biāo)準不確定度(dù) | ≤4% |
| 計(jì)算機(jī)通(tōng)訊接(jiē)口(kǒu) | 並口 |
| 標準(zhǔn)使用環(huán)境 | 溫(wēn)度:23± |
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多(duō)用(yòng)途幹膜檢測儀/幹膜(mó)檢(jiǎn)測儀/幹(gān)膜(mó)測試儀 型(xíng)號(hào):DP-PIG
多(duō)用途(tú)幹膜檢測儀/幹(gān)膜檢測(cè)儀(yí)/幹膜測(cè)試儀 說明(míng):
DP-PIG多用途幹膜檢測儀(破壞性測(cè)厚(hòu)儀)是根據GB/T13452.2方(fāng)法(fǎ)4B(ISO.2808-4B法(fǎ))GB/T9286(ISO.2409)GB/T9275(ISO.2815)標(biāo)準的。它不僅適(shì)用(yòng)於(yú)有機(jī)塗(tú)料漆膜(mó)厚度(亦多(duō)層膜總厚度,單層膜(mó)厚(hòu)度(dù)及(jí)膜層(céng)數),劃(huá)格(gé)法附著(zhuó)力,巴(bā)克(kè)霍(huò)爾茲(zī)壓痕(hén)硬度(dù)的(dí)測(cè)定,還(huán)可以用(yòng)來研究(jiū)針孔(kǒng),坑窪,裂(liè)紋(wén),汽泡,剝(bāo)落,底材(cái)處理(lǐ)的質(zhì)量及膜層(céng)間的其它(tā)現(xiàn)象(xiàng),並可(kě)以在不(bù)同的底材(鋼(gāng),非(fēi)磁性(xìng)金(jīn)屬,塑料(liào),木(mù)材等)上(shàng)測量厚度(dù),範圍從2μm到(dào)2000μm。
漆膜多用(yòng)檢(jiǎn)測儀可以在種儀(yí)器上(shàng)成對(duì)有機塗(tú)料多種(zhǒng)性能(néng)的(dí)試驗及(jí)檢測,且試驗方(fāng)法(fǎ)簡捷,直觀(guān),測(cè)量分(fēn)辯率(±0.001mm),是實(shí)驗室和施現(xiàn)場理想的測(cè)試儀(yí)器。
多用(yòng)途幹膜(mó)檢測儀(yí)/幹(gān)膜檢測儀(yí)/幹(gān)膜測(cè)試儀 參(cān)數(shù):
本儀器集(jí)劃(huá)格附(fù)著力,漆膜(mó)厚(hòu)度和巴(bā)克(kè)霍爾茲(zī)壓痕硬度三項能(néng)於(yú)體(tǐ),適用於漆膜附著(zhuó)力,漆膜厚(hòu)度和巴克霍(huò)爾(ěr)茲壓(yā)痕實驗(yàn)。
破(pò)壞(huài)法測(cè)量多種底(dǐ)材上的塗層厚(hòu)度,尤(yóu)其(qí)適合塑料和(hé)硬(yìng)質木材上(shàng)的塗(tú)層測厚。
測厚(hòu)量(liáng)程0-2000μm,度(dù)可達(dá)2μm。
1號(hào)切刀(dāo):厚度範(fàn)圍(wéi) 20―2000μm 每格20μm
2號(hào)切(qiē)刀(dāo):厚度範圍(wéi) 10―1000μm 每格(gé)10μm
3號(hào)切(qiē)刀:厚(hòu)度範圍 2―200μm 每格(gé)2μm
附著(zhuó)力刀頭(tóu)可做劃格(gé)試驗。
劃格附(fù)著力多(duō)刃(rèn)切(qiē)割刀,間(jiān)距(jù)分別為(wéi):1mm,2mm
硬度刀頭可(kě)行布氏壓痕硬(yìng)度試驗(yàn)。
巴克(kè)霍爾(ěr)茲壓(yā)痕刀半徑(jìng):R15mm,有效負荷:500±5g