四(sì)探(tàn)針測試(shì)儀采用(yòng)四(sì)探針(zhēn)雙(shuāng)電測量方法
，適(shì)用於(yú)企業，等院(yuàn)校，科研
，是檢驗和(hé)分(fēn)析(xī)導體(tǐ)材(cái)料和半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料在(zài)溫(wēn)，真空(kōng)及(jí)氣氛條件下測量的(dí)種重要的(dí)具(jù)。本儀(yí)器配(pèi)置(zhì)各類(lèi)測量(liáng)裝(zhuāng)置(zhì)可以測(cè)試(shì)不同材料(liào)。液(yè)晶顯(xiǎn)示
，無(wú)需人計算(suàn)
，並帶(dài)有(yǒu)溫度補償能(néng)。采用度AD芯(xīn)片控(kòng)製(zhì)
，恒流輸(shū)出
，結(jié)構合理，質量輕(qīng)便(biàn)
，配備10英寸(cùn)觸摸(mō)屏(píng)
，軟件(jiàn)可保(bǎo)存(cún)和打(dǎ)印數據
，自(zì)動生成報表(biǎo)；本(běn)儀(yí)器(qì)可(kě)顯(xiǎn)示(shì)電阻(zǔ)，電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)，方阻(zǔ)，溫度，單位(wèi)換算，溫(wēn)度係數，電(diàn)流，電壓，探(tàn)針形(xíng)狀，探(tàn)針間(jiān)距，厚度(dù)，電導率
，配置(zhì)不(bù)同的(dí)測(cè)試治具可(kě)以滿足不同材料的測試(shì)要求(qiú)。測試治具(jù)可以根(gēn)據(jù)產品及(jí)測試項目要(yào)求選購。

 

　　四探(tàn)針測(cè)試(shì)儀(yí)是運(yùn)用直(zhí)綫或(huò)方形四探(tàn)針(zhēn)雙(shuāng)位(wèi)測(cè)量(liáng)。該(gāi)儀(yí)器(qì)符合單晶矽(guī)物理測(cè)試方法(fǎ)家(jiā)標(biāo)準(zhǔn)並(bìng)參考美A.S.T.M標準。利用電(diàn)流探(tàn)針(zhēn)，電(diàn)壓(yā)探(tàn)針的(dí)變(biàn)換(huàn)
，行兩(liǎng)次(cì)電(diàn)測量
，對(duì)數據(jù)行(háng)雙(shuāng)電測(cè)分析(xī)
，自動消除樣品幾(jī)何尺寸，邊界效(xiào)應(yīng)以及探針(zhēn)不等距和機(jī)械遊移(yí)等(děng)因素(sù)對(duì)測量(liáng)結果的影(yǐng)響(xiǎng)
，它與單電測(cè)直(zhí)綫(xiàn)或(huò)方(fāng)形四探(tàn)針(zhēn)相(xiāng)比
，大大提度
，也(yě)可應用(yòng)於(yú)產品檢測以(yǐ)及(jí)新材(cái)料電(diàn)學性能(néng)研究等(děng)用(yòng)途。

 

　　應(yīng)用：

　　四探(tàn)針測(cè)試儀適用於半導(dǎo)體(tǐ)材料廠(chǎng)，半導(dǎo)體(tǐ)器(qì)件廠，科研單位，等院校(xiào)對半(bàn)導(dǎo)體材料的電阻(zǔ)性(xìng)能測試(shì)。

　　四探針(zhēn)軟件測試(shì)係統是(shì)個(gè)運(yùn)行在計算機上擁(yōng)有友(yǒu)好(hǎo)測試(shì)界麵的用戶(hù)程序
，通(tōng)過此測試(shì)程序輔助(zhù)使(shǐ)用(yòng)戶簡便(biàn)地(dì)行(háng)各(gè)項測試(shì)及獲(huò)得測試數據並(bìng)對測(cè)試數(shù)據(jù)行統計(jì)分析(xī)。

　　測試程(chéng)序控(kòng)製四探針測(cè)試儀行(háng)測量並(bìng)采(cǎi)集(jí)測試數(shù)據(jù)
，把(bǎ)采集到(dào)的(dí)數據在計算機(jī)中加(jiā)以(yǐ)分(fēn)析(xī)
，然後(hòu)把測(cè)試數據(jù)以表(biǎo)格
，圖形直觀地記錄，顯(xiǎn)示(shì)出來。用戶(hù)可(kě)對(duì)采集(jí)到的數據(jù)在電(diàn)腦中保存或者打印以(yǐ)備日(rì)後參考和查看
，還可(kě)以把采集到(dào)的(dí)數(shù)據輸出(chū)到(dào)Excel中(zhōng)
，讓(ràng)用(yòng)戶對數據(jù)行(háng)各種數據分(fēn)析。